^{<blockquote id="heiab"></blockquote>}

^{<blockquote id="4y8ai"></blockquote>}<cite id="4y8ai"></cite>

型號：

熒光鍍層測厚儀

描述：熒光鍍層測厚儀是集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款金屬鍍層測厚儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大表面處理電鍍厚度檢測儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。

廠商性質
經銷商
更新時間
2025-05-18
訪問量
1182

產品咨詢聯系我們

品牌	其他品牌	價格區間	面議
產地類別	國產	應用領域	醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池,包裝/造紙/印刷

熒光鍍層測厚儀是一款快速、無損、準確檢測鍍層厚度新型儀器。主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測，可以檢測如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等，多一次分析五層。

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%

穩定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

采用*微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與

Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度 15℃～30

產品咨詢

產品分類

Product Category

^{<blockquote id="cdkij"></blockquote>}

熒光鍍層測厚儀

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%

穩定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

采用*微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與

Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度 15℃～30

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

熒光鍍層測厚儀

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%

穩定性：可達0.1%

SDD探測器：分辨率低至135eV

采用*微孔準直技術，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與

Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度 ：小于0.1um

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度 15℃～30

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um